As soluções de tomografia computorizada da Zeiss foram desenvolvidas para facilitar as tarefas mais complexas no campo da medição e inspeção, tornando visível o invisível. Através da tecnologia de raios X em contextos industriais é possível melhorar, não apenas os controlos de qualidade, mas também os seus processos, abrindo assim novas possibilidades para a medição de precisão dimensional.
Metrotom 1 de Zeiss cuenta con las mejores prestaciones en cuanto a velocidad de captura y precisión de las mediciones, pero con un claro enfoque en la facilidad de uso.
Este avanço tecnológico contribui, diretamente, tanto na medição como na análise e inspeção de defeitos ocultos e dificilmente visíveis a olho nu ou com outros instrumentos; mas resolve também a análise de estruturas internas que não se podem detetar com máquinas de medição por coordenadas.
Para além disso, com os raios X é possível visualizar fragmentos sem destruir a peça e observar o seu interior sem a necessidade de utilizar instrumentos adicionais, o que supõe uma importante poupança de tempo e dinheiro ao reduzir o número de dispositivos necessários para a sua observação e, acima de tudo, um drástico aumento da fiabilidade da inspeção e medição, visto que não se altera a peça ou o conjunto. Mas isto não é tudo, já que estes sistemas avançados de tomografia computorizada da Zeiss permitem realizar todo o tipo de exercícios sem a necessidade de modelo CAD.
Nos contextos industriais, como o setor da automação, aeroespacial, embalamento, dispositivos médicos ou eletrónica, a observação das peças com raios X abre um leque completamente novo de potenciais aplicações que vão desde a inspeção de defeitos internos até à análise estrutural de materiais.
Sem uma inspeção minuciosa desde a base, os defeitos podem passar despercebidos em etapas posteriores, o que pode representar custos elevados para as empresas. Por este motivo, aposta-se na progressiva automatização do departamento de qualidade, com o objetivo de avaliar o dimensionamento das peças e antecipar-te os possíveis erros de fabrico, minimizando, assim, o impacto de resíduos e desperdícios na própria cadeia de produção.
Com os sistemas de raios X é possível captar toda a superfície e estrutura interna das peças fabricadas a um nível 3D, através da tecnologia de metrologia por tomografia computorizada que pode ser combinada com o software Zeis Reverse Engineering. Mais precisamente, a espessura destas estruturas internas é apresentada através de um código de cores, embora permita criar modelos CAD facilmente e acelerar de forma notável os processos de desenvolvimento de produtos e de engenharia inversa, já que torna possível verificar a precisão dimensional das peças, incluindo as mais complexas, com apenas uma digitalização.
Os sistemas de metrologia Zeiss incorporam o abrangente software GOM Volume Inspect.
Entre as principais caraterísticas da medição por raios X em contextos industriais destacam-se:
A Zeiss confia nos avanços na área dos raios X para otimizar os processos de metrologia, através da tomografia computorizada. Estas são algumas das suas soluções industriais:
Zeiss Bosello é um dos dispositivos mais robustos para a inspecção de alta velocidade e não destrutiva.
Zeiss Xradia é um dos instrumentos mais avançados e versáteis para a investigação científica e industrial.
intermetal.pt
InterMETAL - Informação profissional para a indústria metalomecânica portuguesa