Informação profissional para a indústria metalomecânica portuguesa
As soluções de as soluções de metrologia industrial adaptam-se às linhas automatizadas para medir todos os níveis e inspecionar defeitos internos durante o processo de produção

Zeiss avança no campo da tomografia computorizada com a tecnologia de raios X

Zeiss23/12/2021

As soluções de tomografia computorizada da Zeiss foram desenvolvidas para facilitar as tarefas mais complexas no campo da medição e inspeção, tornando visível o invisível. Através da tecnologia de raios X em contextos industriais é possível melhorar, não apenas os controlos de qualidade, mas também os seus processos, abrindo assim novas possibilidades para a medição de precisão dimensional.

Metrotom 1 de Zeiss cuenta con las mejores prestaciones en cuanto a velocidad de captura y precisión de las mediciones...

Metrotom 1 de Zeiss cuenta con las mejores prestaciones en cuanto a velocidad de captura y precisión de las mediciones, pero con un claro enfoque en la facilidad de uso.

Este avanço tecnológico contribui, diretamente, tanto na medição como na análise e inspeção de defeitos ocultos e dificilmente visíveis a olho nu ou com outros instrumentos; mas resolve também a análise de estruturas internas que não se podem detetar com máquinas de medição por coordenadas.

Para além disso, com os raios X é possível visualizar fragmentos sem destruir a peça e observar o seu interior sem a necessidade de utilizar instrumentos adicionais, o que supõe uma importante poupança de tempo e dinheiro ao reduzir o número de dispositivos necessários para a sua observação e, acima de tudo, um drástico aumento da fiabilidade da inspeção e medição, visto que não se altera a peça ou o conjunto. Mas isto não é tudo, já que estes sistemas avançados de tomografia computorizada da Zeiss permitem realizar todo o tipo de exercícios sem a necessidade de modelo CAD.

Antecipar-se aos defeitos de produção com a tomografia computorizada

Nos contextos industriais, como o setor da automação, aeroespacial, embalamento, dispositivos médicos ou eletrónica, a observação das peças com raios X abre um leque completamente novo de potenciais aplicações que vão desde a inspeção de defeitos internos até à análise estrutural de materiais.

Sem uma inspeção minuciosa desde a base, os defeitos podem passar despercebidos em etapas posteriores, o que pode representar custos elevados para as empresas. Por este motivo, aposta-se na progressiva automatização do departamento de qualidade, com o objetivo de avaliar o dimensionamento das peças e antecipar-te os possíveis erros de fabrico, minimizando, assim, o impacto de resíduos e desperdícios na própria cadeia de produção.

Com os sistemas de raios X é possível captar toda a superfície e estrutura interna das peças fabricadas a um nível 3D, através da tecnologia de metrologia por tomografia computorizada que pode ser combinada com o software Zeis Reverse Engineering. Mais precisamente, a espessura destas estruturas internas é apresentada através de um código de cores, embora permita criar modelos CAD facilmente e acelerar de forma notável os processos de desenvolvimento de produtos e de engenharia inversa, já que torna possível verificar a precisão dimensional das peças, incluindo as mais complexas, com apenas uma digitalização.

Os sistemas de metrologia Zeiss incorporam o abrangente software GOM Volume Inspect

Os sistemas de metrologia Zeiss incorporam o abrangente software GOM Volume Inspect.

Entre as principais caraterísticas da medição por raios X em contextos industriais destacam-se:

  • Permite detetar cavidades, poros, gretas e outros defeitos de forma fácil e rápida.
  • Permite a visualização e controlo de conjuntos montados.
  • Com apenas uma tomografia é possível observar se as uniões mediante soldaduras, adesivos ou rebites encontram-se sem defeitos.
  • Os defeitos em componentes elétricos, como circuitos impressos ou baterias, são rapidamente visualizados com os raios X.

Soluções industriais de tomografia computorizada por raios X

A Zeiss confia nos avanços na área dos raios X para otimizar os processos de metrologia, através da tomografia computorizada. Estas são algumas das suas soluções industriais:

  • Zeiss Metrotom 1. Novo equipamento de acesso à tecnologia. Com as melhores prestações a nível de velocidade de captura e precisão das medidas e com um claro foco na facilidade de utilização. Equipamento muito compacto e pensado para ser utilizado por operadores sem experiência prévia em equipamentos de inspeção ou medição. Devido ao pouco espaço que ocupa, o scanner de tomografia computorizada cabe facilmente no laboratório de metrologia ou linha de produção e permite realizar medições e inspeções internas em paralelo. Inclui o software GOM Volume Inspect Pro completo, adequado para todo o tipo de utilizadores e que combina todas as fases do processo.
  • Zeiss VoluMax. Trata-se de um equipamento de inspeção por tomografia computorizada de máximo rendimento. Está especialmente desenhado para aplicações onde é necessário inspecionar muitos componentes com grande rapidez. Tanto a máquina como o software são configurados pela ZEISS de forma individualizada, em função das necessidades de inspeção.
Zeiss Bosello é um dos dispositivos mais robustos para a inspecção de alta velocidade e não destrutiva

Zeiss Bosello é um dos dispositivos mais robustos para a inspecção de alta velocidade e não destrutiva.

  • Zeiss Bosello. As máquinas Zeiss Bosello são equipamentos robustos, para a inspeção 2D com raios X, desenhados para o contexto de produção. Garantem uma inspeção de alta velocidade não destrutiva, diretamente na linha ou próximo da cadeia de produção com o rendimento mais elevado.
  • Zeiss Xradia. Os microscópios de raios X 3D mais avançados são os que formam a família Xradia, onde é possível obter novos níveis de versatilidade na investigação científica e industrial. Com uma melhorada resolução e contraste, as versões 610 e 620 ampliam os limites das imagens a uma escala nanométrica, submicrónica.
Zeiss Xradia é um dos instrumentos mais avançados e versáteis para a investigação científica e industrial

Zeiss Xradia é um dos instrumentos mais avançados e versáteis para a investigação científica e industrial.

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